数字传感器IP
通用型一体化缺陷注入传感器
在密码技术中，可以通过向设备注入一个或多个缺陷来进行攻击，从而破坏功能行为。用于注入缺陷的常见技术包括引入源电压、时钟频率及温度变化，或用激光束照射等。
与专用于检测特定扰动攻击的模拟传感器不同，数字传感器用于检测属于缺陷注入攻击(FIA)范畴的各种威胁，包括：
- 输入时钟频率（时钟噪声攻击、超频）：缩短时钟周期，引起关键路径冲突
- 输入电压（电压噪声攻击、欠压）：降低电源电压，延长组合逻辑传播时间
- 温度（升温）：改变温度以延长传播时间
- 照射（激光光斑、光斑、电磁）：通过照射导致寄存器中的位设置或复位
数字传感器将所有监控到的应力转换成时间应力，然后进行测量。当检测到威胁时，数字传感器为系统提供威胁级别测量结果，并触发硬件报警。
作为一种缺陷注入检测IP，数字传感器IP提供以下功能：
数字传感器IP是一种成熟的技术，提供用于可靠性和安全性评估的随机模型，能够检测全局和局部缺陷注入，比如激光缺陷注入、EMFI（电磁缺陷注入）、时钟或温度缺陷注入。由于它与设计的其他部分融为一体，很难被攻击者发现。
- 实时硬件报警
- 嵌入运行状况测试，以便在启动期间和按需验证IP的完整性
- 可用于安全认证（包括通用准则）
- 完全数字化，并采用标准单元库设计
- 可转移到任何设计工具包
- 轻量级
- 灵敏度可定制
- 兼容时钟门控功能
- 可通过单个总线接口连接多个传感器
- 设计后无需校准
- 支持DVFS（动态电压频率调整）
- 易于集成到系统中
数字传感器IP已经在“安全科学工厂”实验室进行了测试，使用全局应力（如时钟噪声攻击）和局部应力（如电磁注入）来评估其稳健性。